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            • 德國(guó)Fischer MP0袖珍測(cè)厚儀全新上市
              德國(guó)Fischer MP0袖珍測(cè)厚儀全新上市

              德國(guó)Fischer MP0袖珍測(cè)厚儀全新上市 實(shí)際應(yīng)用舉例 ? 鐵上電鍍鋅,鉻,銅等鍍層 ? 鐵上油漆,清漆,塑料等涂層 ? 非鐵磁性金屬(鋁,銅,黃銅)或無(wú)磁性不銹鋼上的油漆,清漆,塑料等涂層 ? 鋁上陽(yáng)極氧化膜

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            • X-Ray菲希爾X熒光射線金屬涂鍍層測(cè)厚儀
              X-Ray菲希爾X熒光射線金屬涂鍍層測(cè)厚儀

              X-Ray菲希爾X熒光射線金屬涂鍍層測(cè)厚儀 在電鍍或電子元件生產(chǎn)過(guò)程中需要快速測(cè)定鍍層厚度時(shí),XUL® 系列測(cè)量?jī)x器是您的解決方案。X 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測(cè)量,能夠在測(cè)量臺(tái)上對(duì)樣品進(jìn)行輕松定位。該系列的所有 X 射線儀器均配備相同的探測(cè)器。您可以根據(jù)自己的測(cè)量需求選擇不同的準(zhǔn)直器、濾波器以及 X 射線管。

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            • PCB面銅測(cè)厚儀SR-SCOPE RMP30-S
              PCB面銅測(cè)厚儀SR-SCOPE RMP30-S

              PCB面銅測(cè)厚儀SR-SCOPE RMP30-S 德國(guó)菲希爾SR-SCOPERMP30-S銅箔測(cè)厚儀用于測(cè)量線路板電路板上銅層厚度的手持式銅箔測(cè)厚儀,SR-SCOPERMP30-S銅箔測(cè)厚儀無(wú)損、快速、并且不會(huì)受到背面銅層的影響。

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            • IsoScope FMP10漆膜測(cè)厚儀菲希爾舊款
              IsoScope FMP10漆膜測(cè)厚儀菲希爾舊款

              IsoScope FMP10漆膜測(cè)厚儀菲希爾舊款 IsoScope FMP10膜厚儀用于測(cè)量非鐵磁性金屬基材上的涂料、油漆或塑料涂層,鋁上的陽(yáng)極氧化膜和非導(dǎo)電基材上的導(dǎo)電涂層。

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            • SigmaScope SMP30銅鋁電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x
              SigmaScope SMP30銅鋁電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x

              SigmaScope SMP30銅鋁電導(dǎo)率測(cè)量?jī)x 適用于測(cè)定非鐵磁性金屬(如鋁或銅)的電導(dǎo)率。通過(guò)測(cè)得的電導(dǎo)率能夠進(jìn)一步得出與熱處理材料的硬度與強(qiáng)度相關(guān)的結(jié)論。從而建立熱損傷與材料疲勞的證據(jù)。為此儀器使用了相敏渦流法。該方法經(jīng)認(rèn)證可用于符合標(biāo)準(zhǔn) DIN EN 2004-1 與 ASTM E 1004 的電導(dǎo)率測(cè)量。

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            • Fischer現(xiàn)貨供應(yīng)DualScope MP0測(cè)厚儀
              Fischer現(xiàn)貨供應(yīng)DualScope MP0測(cè)厚儀

              Fischer現(xiàn)貨供應(yīng)DualScope MP0測(cè)厚儀 緊湊,便攜式,耐用:FISCHER推出的MP0和MP0R系列無(wú)損測(cè)厚儀可以快速,準(zhǔn)確地測(cè)量涂層的厚度,以滿足客戶的需求對(duì)FISCHER的一致精度水平的期望。

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            • DeltaScope FMP10磁性測(cè)厚儀菲希爾現(xiàn)貨
              DeltaScope FMP10磁性測(cè)厚儀菲希爾現(xiàn)貨

              DeltaScope FMP10磁性測(cè)厚儀菲希爾現(xiàn)貨 德國(guó)菲希爾DELTASCOPE FMP10涂層測(cè)厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2178, ASTM B499標(biāo)準(zhǔn)的電磁感應(yīng)方法,適用于測(cè)量: 非鐵金屬鍍層(例如:鉻,銅,鋅等)在鋼和鐵上 油漆,臘克和合成涂層在鋼和鐵上

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            • X-Ray熒光射線金屬涂層測(cè)厚儀菲希爾原裝
              X-Ray熒光射線金屬涂層測(cè)厚儀菲希爾原裝

              X-Ray熒光射線金屬涂層測(cè)厚儀菲希爾原裝 方法的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單,速度快,可以進(jìn)行原位測(cè)量,在現(xiàn)場(chǎng)獲得目標(biāo)元素的含量;劃分礦與非礦的界限,代替或部分代替刻槽取樣。放射性同位素X射線熒光測(cè)井和海底X射線熒光測(cè)量,也得到了很大的發(fā)展

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